Публикация №15713(БАЛЛЫ 40)
Название публикации | Investigation of BiFeO3/HfO2 gate stack for ferroelectric field effect transistors in IOT applications |
---|---|
Название на другом языке | |
Тип публикации | Статья |
Издание | Journal of Materials Science: Materials in Electronics |
Издатель | Не задан |
ISBN | Не задан |
DOI | 10.1007/s10854-021-06737-1 |
Год издания | 2021 |
Том | 32 |
Номер | 17 |
Глава | Не задан |
Страницы | 22517-22526 |
Аннотация | Не задан |
Авторы | |
ссылка в Internet | |
РИНЦ | 0 |
WoS | 0 |
Баллы | 40 |
Цитируемые публикации авторов ФИЦ ИУ РАН |