Публикация №15669(БАЛЛЫ 20)

Название публикацииSelf-Timed Storage Register Soft Error Tolerance Improvement
Название на другом языке
Тип публикацииДоклад
Издание2021 IEEE East-West Design and Test Symposium, EWDTS 2021 (Batumi, 10-13 September 2021)
ИздательInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBNНе задан
DOI10.1109/EWDTS52692.2021.9580993
Год издания2021
Том1
НомерНе задан
ГлаваНе задан
Страницы1-6
АннотацияНе задан
Авторы(ФИЦ ИУ РАН) Степченков Юрий Афанасьевич
(ФИЦ ИУ РАН) Дьяченко Юрий Георгиевич
(ФИЦ ИУ РАН) Рождественский Юрий Владимирович
(ФИЦ ИУ РАН) Шикунов Юрий Игоревич
(ФИЦ ИУ РАН) Дьяченко Денис Юрьевич
ссылка в Internet
РИНЦ0
WoS0
Баллы20
Цитируемые
публикации авторов
ФИЦ ИУ РАН